KS C IEC 60749-32-2006(2016)
Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos externamente)

Estándar No.

KS C IEC 60749-32-2006(2016)

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-32:2021

Ultima versión

KS C IEC 60749-32:2021

KS C IEC 60749-32-2006(2016) Historia

• 2021 KS C IEC 60749-32:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos externamente).
• 0000 KS C IEC 60749-32-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-32:2006 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos externamente)