TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008
Prueba y diagnóstico de circuitos integrados de RF y señales mixtas analógicas: el enfoque del sistema en chip

Estándar No.
TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008
Fecha de publicación
2008
Organización
IET - Institution of Engineering and Technology
Alcance
Los sistemas en chip (SoC) para comunicaciones@multimedia y aplicaciones informáticas han recibido recientemente mucha atención internacional; un ejemplo de ello es el transceptor de un solo chip. El diseño microelectrónico moderno adopta un enfoque de señal mixta, ya que un SoC complejo es un sistema de señal mixta que incluye circuitos analógicos y digitales. Las pruebas automáticas adquieren una importancia crucial para reducir el coste general de los dispositivos SoC de próxima generación. Sin embargo, las pruebas y el diagnóstico de fallas de circuitos analógicos@ de señal mixta y de RF@ resultan mucho más difíciles que los de los circuitos digitales debido a tolerancias@, parásitos y no linealidades y, por lo tanto@, junto con una sintonización y calibración desafiantes@, sigue siendo el cuello de botella para las pruebas automáticas de SoC. Este libro proporciona una discusión exhaustiva sobre las pruebas automáticas, el diagnóstico y la sintonización de sistemas y circuitos integrados de RF y de señal mixta analógica @ en una sola fuente. El libro contiene once capítulos escritos por destacados investigadores de todo el mundo. Además de los conceptos y técnicas fundamentales, el libro informa sistemáticamente el estado de la técnica y las futuras direcciones de investigación de estas áreas. Se cubre una gama completa de componentes de circuitos y también se abordan cuestiones de prueba desde la perspectiva de SoC. Un compañero de referencia esencial para investigadores e ingenieros en pruebas de señales mixtas @ el libro también se puede utilizar como texto para estudiantes de posgrado y de último año.



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