KS C IEC PAS 62162-2002(2022) Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
2002KS C IEC PAS 62162:2002 Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos