IEC 60749-15:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
2010IEC 60749-15:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
2003IEC 60749-15:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes (Edición 1.0; Reemplaza IEC/PAS 62174: 2000; Junto con IEC 60749-14:2003 @ IEC 60749-3:2002 e IEC 60749 -31:200