IPC - Association Connecting Electronics Industries
Alcance
Resumen: Este método está destinado a la medición rápida de la permitividad relativa aparente de la línea de franja (ver 9.1) y la tangente de pérdida de sustratos revestidos de metal en la banda X (8,00 a 12,40 GHz). Las mediciones se realizan en condiciones de línea de banda utilizando una tarjeta de patrón de elementos resonantes @ que está separada de los planos de tierra por láminas del material a probar. Puede encontrar más información sobre este método en ASTM D3380-75. Definiciones: Los términos utilizados en este método incluyen: Permitividad relativa compleja Los valores de permitividad relativa y factor de disipación considerados como un número complejo. Permitividad Constante dieléctrica (ver IPC-T-50) o permitividad relativa. El símbolo utilizado en este documento es er. A veces se utilizan K' o k'. Permitividad relativa Una relación adimensional entre la permitividad absoluta de un dieléctrico y la permitividad absoluta de un vacío. Tangente de pérdida Factor de disipación (ver IPC-T-50) @ tangente de pérdida dieléctrica. El símbolo utilizado en este documento es tan d (ver 9.2). Limitaciones Deben tenerse en cuenta las siguientes limitaciones del método. Se advierte a los usuarios que no deben asumir que el método produce valores de permitividad y tangente de pérdida que corresponden directamente a las aplicaciones. El valor del método es asegurar la consistencia del producto y, por tanto, la reproducibilidad de los resultados en los tableros fabricados. La permitividad efectiva medida para el elemento resonador puede diferir de la observada en una aplicación. Cuando la aplicación es en línea de franja y el ancho de la línea al espaciado del plano de tierra es menor que el del elemento resonador en la prueba, la aplicación exhibirá un mayor componente del campo eléctrico en el plano X@Y. Los compuestos dieléctricos heterogéneos son anisotrópicos hasta cierto punto, lo que da como resultado una er mayor observada para líneas más estrechas. Las líneas Microstrip en una aplicación también pueden diferir de la prueba en la fracción del componente del campo eléctrico del sustrato en el plano X@Y. Los conjuntos de líneas unidas tienen excluido el aire entre las placas, por lo que tienden a mostrar mayores valores de er. Los altos grados de anisotropía de algunos compuestos pueden dar como resultado un mayor grado de acoplamiento del elemento resonante@, lo que resulta en un valor Q falsamente más bajo. Si no se aplica una corrección matemáticamente como en 7.2.2 o desviándose de los espacios de sonda especificados para el patrón de prueba, se producirá un sesgo hacia arriba en la tangente de pérdida calculada. La sensibilidad del método a las diferencias en er de las muestras se ve perjudicada por el hecho de que la tarjeta del patrón del resonador permanece como parte del dispositivo y al mismo tiempo constituye una parte significativa del dieléctrico involucrado en las mediciones. El método no se presta al uso de muestras de referencia estables de propiedades eléctricas conocidas rastreables hasta el Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST).