KS D 0258-2012(2017)
Métodos de prueba de defectos cristalinos en silicio mediante técnicas de grabado preferencial.

Estándar No.

KS D 0258-2012(2017)

Fecha de publicación

2012

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS D 0258-2012(2022)

Ultima versión

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KS D 0258-2012(2017) Historia

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• 2012 KS D 0258-2012 Métodos de prueba de defectos cristalinos en silicio mediante técnicas de grabado preferencial.
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