KS C IEC PAS 62164-2003(2008)
Directrices para las pruebas de vida útil de GaAs MMIC y FET

Estándar No.

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)

Fecha de publicación

2003

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Ultima versión

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)

KS C IEC PAS 62164-2003(2008) Historia

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• 2003 KS C IEC PAS 62164:2003 Directrices para las pruebas de vida útil de GaAs MMIC y FET