KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
Dispositivos semiconductores-Dispositivos discretos-Parte 4-1:Diodos y transistores de microondas-Transistores de efecto de campo de microondas-Especificación detallada en blanco

Estándar No.
KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
Fecha de publicación
2002
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Ultima versión
KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)

KS C IEC 60747-4-1-2002(2017) Historia

  • 0000 KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
  • 2002 KS C IEC 60747-4-1:2002 Dispositivos semiconductores-Dispositivos discretos-Parte 4-1:Diodos y transistores de microondas-Transistores de efecto de campo de microondas-Especificación detallada en blanco



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